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单晶硅晶圆全自动测量方案

单晶硅晶圆全自动测量方案,主要由三坐标测量机、上下料库位,机器人及抓手,自动夹具,读码枪,自动测量控制系统等组成,实现晶圆的自动上下料,自动测量,数据自动保存及判定等功能。

应用方向

单晶硅晶圆的全自动测量,以及类似圆盘薄片零件的测量需求


技术优势

• 除人工送检外,其余动作均自动完成,可实现自动上下料、自动吸附、自动检测、给出检测结果便于机器人分拣下料;

• 机器人抓手及自动夹具均采用特殊材质,避免对工件表面的二次污染;

• 机器人抓手及自动夹具可兼容多种单晶硅片,工件换型时,只需提前配置测量程序即可;


用户收益

• 节省人力成本:全自动检测方案,无需操作人员

• 效率提升:全自动上下料、检测方案,正反面一次测量完成,提高系统检测效率 100% 以上

• 提高设备利用率:全自动检测满足 24 小时生产,提高设备利用率至 95% 以上

• 数字化:检测完毕,自动关联工件身份信息存储测量报告;并实时将检测数据传递至客户数据库,提高数字化和追溯性

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