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头戴式耳机外观瑕疵检测方案

客户问题

头戴式耳机因为音质效果好、佩戴舒适、隔音好，一直以来受到了消费者的普遍喜爱。在其工业生产中，因为各种因素造成的外观瑕疵不仅造成了不良的产品质量第一印象，有些甚至对产品性能产生了很大的影响。因此瑕疵检测是头戴式耳机质量检测环节极其重要的步骤。

解决方案

针对头戴式耳机的多种类型瑕疵检测，海克斯康推出了头戴式耳机外观瑕疵检测方案。

检测项目

检测管口外侧有无短射与熔接痕(检测点位：2个）

检测Yube 管外侧与2个侧部有无短射与熔接痕(检测点位：10个）

检测Yube 两段管口毛边(检测点位：2个）

多料：浇口残留<0.3mm (检测点位：4个）

方案优势

CT时间，26s/pcs

5个高像素相机搭配远心镜头，包含同轴光与环形光不同光源，多个垂直单轴模组与旋转轴模组

设备通过顶部的1个CCD、侧面的2个CCD及外侧的2个CCD对产品进行全方位的检测

设备进行外侧测试时，通过X轴、Z轴、旋转轴来调节测试点位进行精准定位

设备进行侧面测试时，侧面两个X轴运动方向相逆，同步测量2个侧面

设备进行顶部测试时，通过Y轴来调节测试点位，一次检测2个点位

技术特点

产品参数